Die Oberflächenanalytik dient der Charakterisierung dünner Filme und Beschichtungen sowie der Oberflächeneigenschaften von Bulk-Materialien. Die elementare Zusammensetzung an der Materialgrenzfläche (< 10 nm) kann gut mittels Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie (XPS) quantitative bestimmt werden, wobei auch der Bindungs-/Oxidationszustand der Elemente zugänglich ist. Schichtdicken dünner Filme im Nanometerbereich lassen sich mittels Ellipsometrie auf reflektierenden Oberflächen (z.B. Gold oder Silizium-Wafer) ermitteln, während die Benetzbarkeit von Oberflächen mit unterschiedlichen flüssigen Medien mittels Kontaktwinkelmessungen bewertet werden kann. Die Oberflächenrauigkeit und Topographie ist mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM) zugänglich, ebenso wie Oberflächenelastizität, Reibungs- und Adhäsionskräfte.
Geräte, Services und Kooperationsmöglichkeiten
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Kontaktwinkel- und Konturanalyse-Messsystem (Dataphysics OCA 15)
Stephan Peth (Leitung)
Abteilung BodenkundeAusstattung/Einrichtung: Gerät
Ansprechperson(en) für Buchung: Susanne Karoline Woche
E-Mail(s): wocheifbk.uni-hannover.de
XRD Feinstruktur-Röntgendiffraktometer (Bruker D8 Advance) mit In-Situ-Messzelle (Anton Paar HTK 1200N)
Armin Feldhoff (Leitung)
Institut für Physikalische Chemie und ElektrochemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
Ansprechperson(en) für Buchung: Armin Feldhoff
E-Mail(s): armin.feldhoffpci.uni-hannover.de
UV-Bestrahlungskammer Beltron BK 850 S
Marie Weinhart (Leitung)
Institut für Physikalische Chemie und ElektrochemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): florian.tondockpci.uni-hannover.de
Spin Coater SPS SPIN150i-NPP
Marie Weinhart (Leitung)
Institut für Physikalische Chemie und ElektrochemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): florian.tondockpci.uni-hannover.de
Rasterkraftmikroskop (Atomic Force Microscope) für biologische Anwendungen NanoWizard® 4 AFM mit Cellhesion (Bruker) und inversem AxioObserver3 Fluoreszenzmikroskop (Zeiss), Anschaffungsjahr 2019
Cornelia Lee-Thedieck (Leitung)
Institut für Zellbiologie und BiophysikAusstattung/Einrichtung: Großgerät
Ansprechperson(en) für Buchung: Peter Schertl
Kontaktwinkel- und Konturanalyse-Messsystem (dataphysics OCA 15EC)
Sebastian Polarz (Leitung)
Institut für Anorganische ChemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): stephan.sirokyaca.uni-hannover.de
