Die Oberflächenanalytik dient der Charakterisierung dünner Filme und Beschichtungen sowie der Oberflächeneigenschaften von Bulk-Materialien. Die elementare Zusammensetzung an der Materialgrenzfläche (< 10 nm) kann gut mittels Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie (XPS) quantitative bestimmt werden, wobei auch der Bindungs-/Oxidationszustand der Elemente zugänglich ist. Schichtdicken dünner Filme im Nanometerbereich lassen sich mittels Ellipsometrie auf reflektierenden Oberflächen (z.B. Gold oder Silizium-Wafer) ermitteln, während die Benetzbarkeit von Oberflächen mit unterschiedlichen flüssigen Medien mittels Kontaktwinkelmessungen bewertet werden kann. Die Oberflächenrauigkeit und Topographie ist mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM) zugänglich, ebenso wie Oberflächenelastizität, Reibungs- und Adhäsionskräfte.
Geräte, Services und Kooperationsmöglichkeiten
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Kontaktwinkel- und Konturanalyse-Messsystem (dataphysics OCA 15EC)
Polarz, S. (Leitung)
Institut für Anorganische ChemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): stephan.sirokyaca.uni-hannover.de
Quantachrome Autosorb-1
Polarz, S. (Leitung)
Institut für Anorganische ChemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): stephan.sirokyaca.uni-hannover.de
Micromeritics 3Flex
Polarz, S. (Leitung)
Institut für Anorganische ChemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): stephan.sirokyaca.uni-hannover.de
Quantachrome Autosorb-3
Polarz, S. (Leitung)
Institut für Anorganische ChemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): stephan.sirokyaca.uni-hannover.de
Micromeritics TriStar II
Polarz, S. (Leitung)
Institut für Anorganische ChemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): stephan.sirokyaca.uni-hannover.de
3P Vapor 100C
Polarz, S. (Leitung)
Institut für Anorganische ChemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): stephan.sirokyaca.uni-hannover.de
Micromeritics ASAP 2020
Polarz, S. (Leitung)
Institut für Anorganische ChemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): stephan.sirokyaca.uni-hannover.de
Quecksilberporosimetrie (Micromeritics AutoPore IV)
Polarz, S. (Leitung)
Institut für Anorganische ChemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): stephan.sirokyaca.uni-hannover.de
Kontaktwinkel- und Konturanalyse-Messsystem (Dataphysics OCA 15)
Peth, S. (Leitung)
Abteilung BodenkundeAusstattung/Einrichtung: Gerät
Ansprechperson(en) für Buchung: Susanne Karoline Woche
E-Mail(s): wocheifbk.uni-hannover.de
Raster-Elektronenmikroskopie: Kalte-Feldemmision Raster Elektronenmikroskopie (Hitachi Regulus 8230)
Polarz, S. (Leitung)
Institut für Anorganische ChemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): stephan.sirokyaca.uni-hannover.de
Mößbauer (Eigenbau mit MIMOS Detektoren. Messung in Transmission und Reflexion an festen Proben)
Renz, F. (Leitung)
Institut für KoordinationschemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
Ansprechperson(en) für Buchung: René Lucka
XRD Feinstruktur-Röntgendiffraktometer (Bruker D8 Advance) mit In-Situ-Messzelle (Anton Paar HTK 1200N)
Feldhoff, A. (Leitung)
Institut für Physikalische Chemie und ElektrochemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
Ansprechperson(en) für Buchung: Armin Feldhoff
E-Mail(s): armin.feldhoffpci.uni-hannover.de
Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS):Kratos Axis Ultra DLD
Guggenberger, G. (Leitung)
Abteilung BodenkundeAusstattung/Einrichtung: Gerät
Ansprechperson(en) für Buchung: Leopold Sauheitl
E-Mail(s): sauheitlifbk.uni-hannover.de
UV-Bestrahlungskammer Beltron BK 850 S
Weinhart, M. (Leitung)
Institut für Physikalische Chemie und ElektrochemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): florian.tondockpci.uni-hannover.de
Plasma-Ofen (Zepto, Diener Electronic)
Weinhart, M. (Leitung)
Institut für Physikalische Chemie und ElektrochemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): florian.tondockpci.uni-hannover.de
Spin Coater SPS SPIN150i-NPP
Weinhart, M. (Leitung)
Institut für Physikalische Chemie und ElektrochemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): florian.tondockpci.uni-hannover.de
XPS Photoelektronen-Röntgenspektrometer (PHI VersaProbe III, mit UPS, Auger, Ar-Cluster-Beam etc.)
Schaate, A. (Leitung)
Institut für Anorganische ChemieAusstattung/Einrichtung: Großgerät
E-Mail(s): andreas.schaateacb.uni-hannover.de
Spektroskopische Ellipsometrie (Sentech SENPro, Sentech)
Weinhart, M. (Leitung)
Institut für Physikalische Chemie und ElektrochemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): florian.tondockpci.uni-hannover.de
Rasterkraftmikroskop (Atomic Force Microscope) für biologische Anwendungen NanoWizard® 4 AFM mit Cellhesion (Bruker) und inversem AxioObserver3 Fluoreszenzmikroskop (Zeiss), Anschaffungsjahr 2019
Lee-Thedieck, C. (Leitung)
Institut für Zellbiologie und BiophysikAusstattung/Einrichtung: Großgerät
Ansprechperson(en) für Buchung: Peter Schertl
DataPhysics OCA 25 (Data Physics Instruments GmbH), Kontaktwinkelanalysen von Oberflächen zur Charakterisierung ihrer Benetzungseigenschaften in Abhängigkeit der Oberflächenzusammensetzung
Weinhart, M. (Leitung)
Institut für Physikalische Chemie und ElektrochemieAusstattung/Einrichtung: Gerät
E-Mail(s): florian.tondockpci.uni-hannover.de
